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當前位置:首頁  >  產品中心  >  熱分析產品

  • 高低溫霍爾效應測試系統(HMS)
    高低溫霍爾效應測試系統(HMS)

    ◇半導體材料研究:通過研究電子遷移率、載流子濃度,了解半導體材料隨溫度變化規律和散射運作機制,主要集中在半導體圓晶制程上面及太陽能電池等。 ◇磁性材料研究:研究霍爾效應與磁電阻效...

    時間:2025-2-12型號:HMS訪問量:640
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  • 變溫電阻率測試系統(RMS)
    變溫電阻率測試系統(RMS)

    變溫電阻率測試系統(RMS)采用四探針法技術,具備檢測材料電阻率的能力??捎糜跍y量半導體塊狀樣品、半金屬樣品(康銅、鎳、鉍等)以及部分非金屬樣品(石墨、碳材料等)的電阻率。廣泛應用...

    時間:2023-12-29型號:RMS訪問量:4815
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  • 輻射功率測試系統(PDRC)
    輻射功率測試系統(PDRC)

    PDRC可用于測量材料的輻射制冷功率,并對不同材料絕熱條件下的輻射降溫性能進行對比。其溫控功能可使目標溫度跟隨環境溫度,同時記錄加熱功率和太陽光輻射功率。在建筑材料和太空中輻射制冷...

    時間:2023-6-14型號:PDRC訪問量:2926
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  • 高低溫原位力學系統(FMS)
    高低溫原位力學系統(FMS)

    FMS用于在拉伸或者壓縮狀態下,對材料進行高低溫的顯微觀察;主要針對有機高分子、納米材料、金屬材料和復合材料等研究領域。該設備是新材料力學性能研究的重要工具。

    時間:2025-2-12型號:FMS訪問量:350
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  • 霍爾效應測試儀(HEM)
    霍爾效應測試儀(HEM)

    可用于一般半導體材料的霍爾系數、電阻率、電子遷移率、載流子濃度的常溫測量,是研究半導體和電子材料的電子特性的重要工具。

    時間:2023-6-14型號:HEM訪問量:2256
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  • 高低溫熱電參數測試系統(TMS)
    高低溫熱電參數測試系統(TMS)

    廣泛應用于測量金屬和半導體塊狀樣品、納米薄膜樣品的Seebeck系數和電阻率。熱電材料是一種將熱能和電能直接相互轉換的功能材料。Seebeck系數、電阻率和熱導率是...

    時間:2025-2-12型號:TMS訪問量:332
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  • 熱電性能分析儀(TPA)
    熱電性能分析儀(TPA)

    可用于一般熱電材料的SEEBECK系數常溫測量,半導體制冷片的ZT值和電阻值測量,是熱電材料和器件研究生產的重要工具。

    時間:2023-6-14型號:TPA訪問量:2656
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  • 變溫顯微測試系統(MMS)
    變溫顯微測試系統(MMS)

    重光變溫顯微測試系統是一套聯用其他顯微結構表征技術的冷熱臺型顯微系統,適用于物相及其微結構分析。在超長的物鏡、高精度、高靈敏溫度控制和高質量的成像技術的加持下,MMS擁有更強大的樣...

    時間:2023-12-29型號:MMS訪問量:2067
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