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霍爾效應測試儀(HEM)

簡要描述:可用于一般半導體材料的霍爾系數、電阻率、電子遷移率、載流子濃度的常溫測量,是研究半導體和電子材料的電子特性的重要工具。

  • 產品型號:HEM
  • 廠商性質:工廠直銷
  • 更新時間:2023-6-14
  • 訪  問  量:2227

詳細介紹

一、產品應用

可用于一般半導體材料的霍爾系數、電阻率、電子遷移率、載流子濃度的常溫測量,是研究半導體和電子材料的電子特性的重要工具。


二、產品特點

1、高精度電流源,輸出精度可達0.1微安,可測量大部分半導體材料。

2、高精度電壓源,24位ADC采集,精度可達微伏級。

3、可靠的重復性,軟硬件設計多重濾波,使測量數據更穩定,確保每個實驗數均為多次測試好的平均值。

4、簡約大氣的外觀設計,儀器連接操作簡單,完成樣品信息設置后,用戶可一鍵點擊測試, 即可同時得到電阻率、載流子濃度、霍爾系數與方阻數據。

5、測試速度快,支持快速切換電流與磁場方向,通過范德堡法進行數據處理。

HEM.jpg

三、產品參數

霍爾參數.png

四、軟件界面

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