變溫光纖光譜測試系統（OMS）

簡要描述：重光變溫光纖光譜測試系統可以用于材料變溫的光學透射或反射測量，也可以用于樣品被紫外線或X射線激發后的光學測量。具體可應用于可見VIS光譜波段的變溫測量、化學物質吸光度測量、高精度的視向速度測量、薄膜和塊狀樣品特征研究。以及其他材料變溫測量需求。溫控軟件，可以集成溫度和光譜數據，可以實時顯示并保存。

產品型號：OMS
廠商性質：工廠直銷
更新時間：2023-12-29
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熱分析產品

變溫顯微測試系統（MMS）變溫光纖光譜測試系統（OMS）變溫電阻率測試系統（RMS）高低溫原位力學測試系統（FMS）介電溫譜測試系統（DMS）霍爾效應測試儀（HEM）熱電性能分析儀（TPA）輻射制冷測試系統（PDRC）高低溫霍爾效應測試系統（HMS）高低溫熱電參數測試系統（TMS）

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詳細介紹

一、產品應用

可以用于材料變溫的光學透射或反射測量，也可以用于樣品被紫外線或X射線激發后的光學測量。具體可應用于可見VIS光譜波段的變溫測量、化學物質吸光度測量、高精度的視向速度測量、薄膜和塊狀樣品特征研究。以及其他材料變溫測量需求。溫控軟件，可以集成溫度和光譜數據，可以實時顯示并保存。

二、產品特點

1.全程溫度精確可控，采用數字PID控溫，控溫精度高。

2.升降溫速率快，可大幅減少測試時間，且液氮消耗量少。

3.可以測量薄膜和塊體材料，適用于多種應用場景。

4.設備體積小巧，占用空間小。

5.界面友好，結果可視化。

三、產品參數

OMS參數表.png

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