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一、產品應用
變溫電阻率測試系統(RMS)采用四探針法技術,具備檢測材料電阻率的能力。可用于測量半導體塊狀樣品、半金屬樣品(康銅、鎳、鉍等)以及部分非金屬樣品(石墨、碳材料等)的電阻率、記憶合金等金屬材料相變研究。廣泛應用于半導體、國防交通、能源技術等許多重要領域。
二、產品特點
1. 變溫范圍廣,-196℃到1200℃全覆蓋,且變溫過程中升降溫速率可控;
2. 測試精度高范圍廣,電阻測量范圍0.01uΩ到1200MΩ;
3. 測試數據量大且完整,變溫過程中持續采集,電阻率數據每秒采集2次 。
三、產品參數
四、測試結果
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