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簡要描述：簡介：適合測試探針需要接觸到樣品正面的情況，測試探針可前后伸縮和自由轉動，因此使用起來靈活方便。根據探針和樣品的接觸狀況，可選擇不同材質和觸點形狀的探針。 配套：A2505（光學平臺方腔支架）、A2801（鈹銅探針）、A 2802（高溫合金探針）、A2803（鎢鋼探針）；
產品分類
光電冷熱臺
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詳細介紹
一、產品簡介
適合測試探針需要接觸到樣品正面的情況，測試探針可前后伸縮和自由轉動，因此使用起來靈活方便。根據探針和樣品的接觸狀況，可選擇不同材質和觸點形狀的探針。
配套：A2505（光學平臺方腔支架）、A2801（鈹銅探針）、A 2802（高溫合金探針）、A2803（鎢鋼探針）
二、產品參數
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