冷熱臺可用于顯微鏡、倒置顯微鏡、紅外光譜儀、拉曼儀、X射線等儀器。適用高分子/液晶、材料、光譜學、生物、醫藥、地質、 食品、冷凍干燥、 X光衍射等領域應用。
原理及應用：冷熱臺和高溫臺，結合研究級巖相學顯微鏡使用，可以直接原位觀察在加溫或冷凍過程中樣品（如：流體包裹體、熔體包裹體）相態的變化，測定相變溫度，進而獲得相關的物理化學參數。
冷熱臺主要包括臺體、控溫系統和液氮冷卻系統；熱臺主要包括臺體、控溫系統、加熱系統和循環水系統。本實驗室擁有的多套研究級巖相學顯微鏡，包括透射/反射兩用光學系統和攝像（照相）系統，通過將冷熱臺和熱臺配備于顯微鏡上實現樣品相變及相變溫度的觀測。
主要用于：
（1）脈石礦物（如：石英、螢石、方解石）和礦石礦物（如：閃鋅礦、黑鎢礦、黃鐵礦）中流體包裹體均一溫度、低溫相變溫度的jing確測定，進而利用包裹體低溫相變溫度確定包裹體成分；
（2）巖漿系統礦物中熔融包裹體均一化過程及均一化溫度的jing確測定。
